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出展情報｜「第13回総合試験機器展」に出展
ANALYSIS
2015.08.31
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2015年9月16日（水）～18日（金）に東京ビッグサイトにて行われるTEST2015「第13回総合試験機器展」に出展します。
ナックブースでは、ハイスピードカメラを活用した画像解析システムをご紹介します。例えば落下衝撃解析システムは、モバイル機器をはじめ各種部品などの落下衝撃時の変形や衝撃量をハイスピードカメラで撮影したスローモーション画像から定量的に解析します。そのほか、新製品のMEMRECAM HX-7、MEMRECAM Q1m/Q1vの実機も展示予定です。
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開催情報
展示会名 第13回総合試験機器展 会期 2015年9月16日（水）～18日（金） 10:00～17:00 場所 東京ビッグサイト 東京都江東区有明3-11-1 ブースNo. T-15 入場料 無料
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出展製品
ハイスピードカメラ「MEMRECAM HX-7」「MEMRECAM Q1m/Q1v」
動作解析ソフトウェア「MOVIAS Neo」
製品については下記リンクよりご確認ください。