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出展情報｜「TEST2017 第14回総合試験機器展」に出展

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ANALYSIS 2017.08.29
    　
  • TEST2017
    2017年9月13日（水）～15日（金）に東京ビッグサイトにて行われる「TEST2017 第14回総合試験機器展」に出展します。ナックブースでは、ハイスピードカメラをはじめとした計測機材や各種計測システムをご紹介します。試験内容や環境に応じて最適なご提案をします。
  • スムーズな入場のため公式サイトより事前登録されることをお勧めしています。「公式サイトはこちら」よりご登録ください。
  • 開催情報
    展示会名 TEST2017 第14回総合試験機器展
    会期 2017年9月13日（水）～15日（金）　10:00～17:00
    場所 東京ビッグサイト東ホール　東京都江東区有明3-11-1
    ブースNo. T-14
    入場料 無料
    公式サイトはこちら
  • 出展製品
    製品については下記リンクよりご確認ください。
    ハイスピードカメラ「MEMRECAM HX-7S」
    ハイスピードカメラ「i-SPEED7シリーズ」
    ハイスピードカメラ「MEMRECAM Q1m/Q1v」